軸類(lèi)測(cè)量?jī)x是一種利用光學(xué)顯微鏡放大物體，然后通過(guò)CCD攝像系統(tǒng)將被測(cè)物體的圖像傳輸?shù)脚c儀器相連的計(jì)算機(jī)，然后用于非接觸和檢測(cè)各種復(fù)雜工件的幾何量的設(shè)備。

在實(shí)際測(cè)量過(guò)程中，軸類(lèi)測(cè)量?jī)x測(cè)量的工件不全光滑，需要測(cè)量一些粗糙的工件。一般來(lái)說(shuō)，光滑的工件成像會(huì)更清晰，所以測(cè)量結(jié)果會(huì)更好，而粗糙的工件則不同，成像可能不清晰，會(huì)從各個(gè)方面影響測(cè)量結(jié)果。因此，軸類(lèi)測(cè)量?jī)x在測(cè)量粗糙時(shí)需要采取相應(yīng)的方法才能得到準(zhǔn)確的結(jié)果。

一般來(lái)說(shuō)，軸類(lèi)測(cè)量?jī)x在測(cè)量粗糙工件時(shí)可以采用以下三種方法，即印模法、干涉法和光切法。印模法是指工件在測(cè)量前使用石蠟或一些低熔點(diǎn)合金等印模材料，印在測(cè)量工件表面，然后放置在軸類(lèi)測(cè)量?jī)x的顯微鏡下進(jìn)行測(cè)量。雖然這種方法可以很好地測(cè)量結(jié)果，但也有局限性，主要適用于大型或大型工件。

干涉法是指利用軸類(lèi)測(cè)量?jī)x的光波干涉原理，然后使用干涉顯微鏡進(jìn)行具體尺寸測(cè)量。光切割法也采用軸類(lèi)測(cè)量?jī)x的光切割原理，采用設(shè)備的雙管顯微鏡進(jìn)行相關(guān)測(cè)量。